Comparison of Interface State Spectroscopy Techniques by Characterizing Dielectric – InGaAs Interfaces
Tez Türü: Yüksek Lisans
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Ohio State University {Ohio}, Amerika Birleşik Devletleri
Tez Danışmanı: Steven Ringel
Tezin Onay Tarihi: 2013