Influence of annealing temperature on the structural optical and electrical properties of amorphous Zinc Sulfide thin films

GÖDE F., GÜNERİ E., KARİPER İ. A., ULUTAŞ C., KIRMIZIGUL F., GÜMÜŞ C.

17th International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials 2011, Amerika Birleşik Devletleri, 4 - 07 Nisan 2011, cilt.326, ss.12020, (Tam Metin Bildiri) identifier

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Cilt numarası: 326
  • Doi Numarası: 10.1088/1742-6596/326/1/012020
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • Sayfa Sayıları: ss.12020
  • Hakkari Üniversitesi Adresli: Hayır