THE ELECTRICAL CHARACTERIZATION of Au F3O4 p Si Al RECTIFYING CONTACT WITH Fe3O4 INTERFACE

DENİZ A. R., ÇALDIRAN Z., ÇOŞKUN F. M., ŞAHİN Y., AYDOĞAN Ş., MERAL K., ...Daha Fazla

İnternational Semiconductor Science Technology Conference, 13 - 15 Ocak 2014

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Hakkari Üniversitesi Adresli: Evet