Electrical Characterization of Au Fe3O4 p Si Al Rectifier Devices Depending on X Ray Radiation Dos

DENİZ A. R., ZAKİR Ç., ŞAHİN Y., HATİCE K., MEHMET Ş., AYDOĞAN Ş.

INTERNATIONAL SEMICONDUCTOR SCIENCE TECHNOLOGY CONFERENCE 2015, İzmir, Türkiye, 11 - 13 Mayıs 2015, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: İzmir
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Hakkari Üniversitesi Adresli: Evet